平成１０年度 特許・実用新案 紹介
特許
【発明の名称】排ガス浄化方法
【発 明 者】宮寺達雄 村松 暁 吉田清英
【公告 番号】平6-96094
【特許 番号】2135955（10.4.24）
【概 要】(1)排ガスの流路の途中に，耐熱性を有する基体の表面上に銀又は銀酸化物を担持した多孔質のセラミック層を形成してなる排ガス浄化材を設置し，前記排ガス浄化材の上流側で前記排ガス中に沸点が160～340℃の液状炭化水素を噴霧し，微粒化されガス化された前記炭化水素を還元剤として作用させて前記排ガス中の窒素酸化物を還元除去する排ガス浄化方法であって，前記多孔質のセラミック層に担持された銀又は銀酸化物の量が，前記多孔質のセラミック層の0.1～5重量％（元素換算値）であることを特徴とする排ガス浄化方法。
(2)(1)に記載の排ガス浄化方法において，前記多孔質のセラミック層が，γ－アルミナ，又はアルミナ系複合酸化物であることを特徴とする排ガス浄化方法。
(3)(1)又は(2)に記載の排ガス浄化方法において，前記液状炭化水素として軽油を用い，前記排ガス浄化材近傍における排ガスの温度を350～500℃に保つことを特徴とする排ガス浄化方法。
【発明の名称】炭酸エステルの製造方法
【発 明 者】佐々木義之
【特許 番号】2775413（10.5.1）
【概 要】(1)二酸化炭素と３級アミンとアルコールをアセチレン化合物の存在下で反応させることを特徴とする炭酸エステルの製造方法。
【発明の名称】有害ガス除去装置
【発 明 者】指宿尭嗣 竹内浩士 高橋武男 新貝和照
宮本昌広 西方 聡 寺野哲浩
【特許 番号】2777623（10.5.8）
【概 要】(1)二酸化チタンと活性炭との混合物を主成分とする光触媒に波長400nm以下の光を照射しながら有害ガスを含む空気を接触させ，空気中の有害ガスを前記光触媒上に捕捉して除去する有害ガス除去装置において，光触媒を薄板からなる羽根状の反応板の表面に担持させ，適宜枚数の前記反応板をブラインド形式に配列するとともに，これらの反応板を方形の支持枠で一体化して触媒モジュールを形成したことを特徴とする有害ガス除去装置。
(2)適宜個数の光源を方形の支持枠で一体化して光源モジュールを形成したことを特徴とする請求項１記載の有害ガス除去装置。
(3)上記触媒モジュールと上記光源モジュールとを適宜個数積層して反応ユニットを形成するとともに，複数個の前記反応ユニットを集合させて構成したことを特徴とする(2)記載の有害ガス除去装置。
(4)上記反応ユニットの空気出入口に開閉自在なダンパを設け，このダンパを閉めて前記反応ユニットごとに光触媒を洗浄するようにしたことを特徴とする(3)記載の有害ガス除去装置。
(5)空気の入口又は出口の有害ガス濃度を測定するガスセンサと，このガスセンサの測定結果に基づいて上記反応板の取付角を増減する手段とを設けたことを特徴とする(1)～(4)のいずれかに記載の有害ガス除去装置。
(6)空気の入口又は出口の有害ガス濃度を測定するガスセンサと，このガスセンサの測定結果に基づいて上記の点灯数又は光量を増減する手段とを設けたことを特徴とする(1)～(5)のいずれかに記載の有害ガス除去装置。
(7)上記反応ユニットを複数の処理系統に分けて設置するとともに，空気の入口又は出口の有害ガス濃度を測定するガスセンサと，このガスセンサの測定結果に基づいて前記処理系統別に前記反応ユニットの運転を制御する手段とを設けたことを特徴とする(3)～(6)のいずれかに記載の有害ガス除去装置。
【発明の名称】排水中からのセレン酸イオンの除去方法
【発 明 者】菊地英治
【特許 番号】2794090（10.6.26）
【概 要】(1)排水中に含まれるセレン酸イオンを除去する方法において，該排水に対し，半導体光触媒及び有機還元剤の存在下で光を照射し，該セレン酸イオンを固体状セレン及び／又はガス状セレン化水素にまで還元することを特徴とする排水中からのセレン酸イオンの除去方法。
(2)酸性条件に保持された排水中に不活性ガスを吹込む(1)の方法。
(3)セレン酸イオンの還元により生成したセレン化水素ガスを重金属塩の水溶液に吸収させ，重金属のセレン化物の沈澱を生成させる(1)又は(2)の方法。
(4)セレン酸イオンの還元により生成した固体状セレンを半導体光触媒上に付着させて排水中から除去する(1)～(3)のいずれかの方法。
【発明の名称】圧力容器
【発 明 者】及川寧己 山口 勉
【特許 番号】2802367（10.7.17）
【概 要】(1)材料試験機の上側載荷枠板と下側載荷枠板との間に設置して使用する圧力容器であって，載荷シリンダが中心を貫通する状態で上側載荷枠板の下面に取り付けられる蓋部材と，下部プラテンが中心を貫通する状態で下側載荷枠板の上面に取り付けられる底部材と，外径が蓋部材のそれと同じで且つ内径が底部材のそれと同じサイズをした筒状の側壁部材とからなり，側壁部材は底部材の周囲で上下にスライド可能に配置され，蓋部材に当接する最上部位置で蓋部材に固定可能であることを特徴とする圧力容器。
【発明の名称】メタノール合成用触媒
【発 明 者】藤谷忠博 斉藤昌弘 高原 功 金井勇樹 武内正巳 守屋圭子 角本輝充 萩原康ノ輔 馬伏弘恭 渡辺大器
【特許 番号】2802415（10.7.17）
【概 要】(1)CO2と水素とを主原料とするメタノール合成で使用する触媒であって，かつ，パラジウムとガリウムとを含有することを特徴とするメタノール合成用触媒。
【発明の名称】粒子形状等の測定方法及びその装置
【発 明 者】吉山秀典
【特許 番号】2818861（10.8.28）
【概 要】(1)散乱平面に垂直または水平方向に偏光された単一波長偏光を，検出領域に導入された微粒子に照射し，微粒子からの散乱光の垂直及び水平方向の偏光成分強度の角度分布を，上記散乱平面に沿い且つ照射される単一波長偏光の光軸の両側に配列設置した多数の散乱光検出素子により，微粒子から散乱する散乱光のうちで垂直方向及び水平方向の偏光のみを通過させる偏光板を通して同時に測定し，これらの偏光成分の角度分布に基づいて微粒子の形状，大きさを推定または同定することを特徴とする粒子形状等の測定方法。
(2)散乱平面に垂直または水平方向に偏向された単一波長偏光の照射系と，上記照射系からの単一波長偏光が照射される検出領域へ気体中に浮遊する微粒子を導入する手段と，上記散乱平面に沿い且つ照射される単一波長偏光の光軸の両側において，上記検出領域の周囲に円弧状に対向配置され，微粒子から散乱する散乱光のうちで垂直方向の偏光のみを通過させる偏光板，及び同水平方向の偏光のみを通過させる偏光板と，上記各偏光板の背後において検出領域の周囲に多数の検出要素を円弧状に配列させることにより形成し，各偏光板を通過した散乱光における垂直方向の偏光成分及び水平方向の偏光成分を同時に検出する散乱光検出素子と，上記散乱光検出素子において検出された偏光成分の角度分布に基づいて微粒子の形状や大きさを推定または同定する解析装置と，を備えたことを特徴とする粒子形状等の測定装置。
(3)(2)に記載の装置における多数の検出要素を円弧状に配列させた散乱光検出素子に替えて，各偏光板の背後において検出領域の周囲に多数の検出要素を直線的に配列させることにより形成し，各偏光板を通過した散乱光における垂直及び水平方向の偏光成分を同時に検出する散乱光検出素子を備えた，ことを特徴とする粒子形状等の測定装置。
(4)(3)に記載の装置において，偏光板における微小部分と，それに対応する散乱光検出素子における検出要素との間を，散乱光を伝達するための導光ファイバにより接続した，ことを特徴とする粒子形状等の測定装置。
【発明の名称】金属微粒子の製造方法
【発 明 者】斎藤 勇
【特許 番号】2818863（10.8.28）
【概 要】(1)金属の有機溶媒抽出液に，オキシカルボン酸又はそのラクトンを添加したのち，加熱下に水素還元することを特徴とする金属微粒子の製造方法。
(2)金属の有機溶媒抽出液がカルボン酸系抽出剤を含む(1)記載の方法。
(3)オキシカルボン酸又はそのラクトンを含有金属に対し，0.5～20重量％の割合で添加する(1)又は(2)記載の方法。
(4)80～300℃に加熱し，3～30kg/cm2の水素圧力下で水素還元する(1)，(2)又は(3)記載の方法。
【発明の名称】芳香族化合物用吸着剤
【発 明 者】小菅勝典 佐藤信也 嶋田浩治
【特許 番号】2829408（10.9.25）
【概 要】(1)マグネシウム分を脱離させたアンチゴライトからなり，MgO含有量が25重量％以下でかつ平均細孔幅が10～20Åのスリット状細孔を有することを特徴とする芳香族化合物用吸着剤。
(2)該芳香族化合物が３環式芳香族化合物である(1)の吸着剤。
(3)燃料油に含まれる芳香族炭化水素の分離方法において，該燃料油(1)の吸着剤に接触させ，燃料油中の芳香族炭化水素を該吸着剤に吸着させることを特徴とする燃料油からの芳香族炭化水素の分離方法。
【発明の名称】ヒートパイプ式路面冷却・発電装置
【発 明 者】山本 格 長谷川仁 望月正孝 益子耕一 斎藤祐士
【特許 番号】2842568（10.10.23）
【概 要】(1)作動流体の蒸気流によって駆動するタービンと，このタービンによって駆動されて電力を発生する発電機とを備えたヒートパイプの一端部が，路面の下側に配設されるとともに，前記ヒートパイプの他方の端部が冷却箇所に配置されていることを特徴とするヒートパイプ式路面冷却・発電装置。
【発明の名称】重量分析装置
【発 明 者】小林 悟 櫛山 暁 水野光一 田森行男 金 潤甲
【特許 番号】2847179（10.11.6）
【概 要】(1)被測定対象である試料を入れるための試料皿と，該試料皿を内部に収容するとともに，開閉扉及びマイクロ波照射窓を有する箱体と，マイクロ波を発振させるマイクロ波発振装置と，該マイクロ波発振装置からのマイクロ波を該マイクロ波照射窓に導くマイクロ波導波管と，該箱体内において該試料皿の近傍に設置され，該試料及び該試料皿の近傍を加熱するための電気ヒーターと，該試料の温度を測定する試料温度センサーと，該試料皿近傍の温度を測定する箱体内温度センサーと，該試料温度センター及び該箱体内温度センサーの出力に電気的に接続するとともに，該電気ヒーターの電源回路に電気的に接続し，該２つの温度センサーの出力に応じて該電源回路の出力状態を制御する箱体内温度制御器と，該試料皿に，該箱体の底板を貫通する支柱を介して連結し，該試料の重量を測定する試料重量測定装置と，該試料重量測定装置で測定した試料重量の変化を経時的に記録する記録計とを具備することを特徴とする重量分析装置。
【発明の名称】吸着剤
【発 明 者】北川 浩 小林 悟
【特許 番号】2849706（10.11.13）
【概 要】(1)キチン質物質の500～1000℃炭化物を表面活性化して形成した活性炭からなる吸着剤。
【発明の名称】熱回収・供給装置
【発 明 者】山本 格 長谷川仁 望月正孝 益子耕一 斎藤祐士 後藤和彦
【特許 番号】2856246（10.11.27）
【概 要】(1)単一の熱源流体が流動する経路内に，複数のヒートパイプの一端部が前記熱源流体の流動方向に沿って配列されるとともに，それらのヒートパイプの他端部が，各ヒートパイプごとに設けた潜熱蓄熱材に熱授受可能に連結され，かつそれらの潜熱蓄熱材の融点が，前記熱源流体の流動方向で上流側に一端部を配置したヒートパイプに対応する潜熱蓄熱材ほど高く設定されていることを特徴とする熱回収・供給装置。
【発明の名称】亜酸化窒素分解用触媒及び亜酸化窒素の除去方法
【発 明 者】内澤潤子 小渕 存 尾形 敦 櫛山 暁
【特許 番号】2866928（10.12.25）
【概 要】(1)亜鉛(Ⅱ)イオン，ロジウム(Ⅲ)イオン及びアルミニウム(Ⅲ)イオンを含むハイドロタルサイト型化合物を焼成して得られる酸化亜鉛のみが結晶状態で存在する複合金属酸化物からなり、該複合金属酸化物に含まれる亜鉛とアルミニウムとの原子比Zn/Alが３以上でかつロジウム含有率が0.5～３重量％であるN2O分解用触媒。
(2)ガス中に含まれるN2Oを除去する方法において、該ガスを250～600℃の温度において(1)の触媒と接触させて酸素と窒素とに分解することを特徴とするN2Oの除去方法。
(3)該ガスが、水蒸気及び／又はNO2を含む(2)の方法。
【発明の名称】ヒートパイプ
【発 明 者】山本 格 望月正孝 勝田正文
【特許 番号】2868208（10.12.25）
【概 要】(1)作動流体が封入されたコンテナと，このコンテナの内部に配置され，かつ，微小間隙を有するウィックとを備えたヒートパイプにおいて，前記コンテナの蒸発部の外周に，熱抵抗の異なる複数の領域が相互に隣接して形成されていることを特徴とするヒートパイプ。
【発明の名称】脱ヒドロキシル化反応の抑制方法
【発 明 者】佐藤芳樹、小寺洋一、加茂 徹、櫛山 暁
【特許 番号】2873963（11.1.14）
【概 要】(1)水素とともに高温に保持されたヒドロキシル基を有する芳香族化合物の脱ヒドロキシル化反応を抑制する方法において，該ヒドロキシル基を有する芳香族化合物にジ低級アルキルカーボネート及び／又はジ低級アルキルケトンを添加することを特徴とする前記脱ヒドロキシル化反応の抑制方法。
(2)該ヒドロキシル基を有する芳香族化合物が，アルキルフェノールである(1)の方法。
【発明の名称】クロロフェノール類含有水の処理方法
【発 明 者】辰巳憲司、山岸昻夫、市川廣保、和田慎二
【特許 番号】2893169（11.3.5）
【概 要】(1)クロロフェノール類含有水を，キチン，キチン部分脱アセチル化物，キトサン及びアルブミンカチオン変性物の中から選ばれた生分解性凝集剤とフェノール酸化酵素とで処理してクロロフェノール類を凝集させ，次いでこの凝集物を嫌気性微生物処理することにより分解し，無害化することを特徴とするクロロフェノール類含有水の処理方法。
(2)フェノール酸化酵素がチロシナーゼ，ラッカーゼ，ベルオキシダーゼ又はポリフェノールオキシダーゼである(1)記載の処理方法。
【発明の名称】モリブデン化合物及び／又はアンチモン化合物を含有する廃水の処理方法
【発 明 者】冨永 衞
【特許 番号】2899697（11.3.19）
【概 要】(1)アンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を含有する廃水を処理してアンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を分離除去するに際し，廃水に無機系凝集剤を添加して，アンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を吸着した状態のフロック（凝集沈殿物）を生成せしめた後に，ゼオライトと接触させることによりアンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物をフロック（凝集沈殿物）と共に，ゼオライトに吸着させて廃水中から分離除去することを特徴とする廃水の処理方法。
(2)アンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を含有する廃水に無機系凝集剤の添加の前又は後に，アルカリを添加して廃水を中性又はアルカリ性とすることを特徴とする(1)記載の廃水の処理方法。
(3)リン酸イオン及び／又は硝酸イオンを含むアンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を含む廃水を処理することを特徴とする(1)又は(2)記載の廃水の処理方法。
(4)ヒ素化合物及び／又はセレン化合物を含むアンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を含む廃水を処理することを特徴とする(1)～(3)のいずれか記載の廃水の処理方法。
(5)(1)記載の方法で得られる分離除去したアンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を吸着した状態のフロック（凝集沈殿物）を吸着したゼオライトを水中で攪拌水洗処理し，アンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を吸着ししたフロック（凝集沈殿物）を水中に取り出し，ゼオライトを再生分離することを特徴とするゼオライトの分離方法。
(6)(5)で得られる再生分離したゼオライトを，アンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物を吸着した状態のフロック（凝集沈殿物）を含有する廃水中に添加することによりアンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物をフロック（凝集沈殿物）とともにゼオライトに吸着させて排水中から分離することを特徴とするアンチモン化合物及び／又はモリブデン化合物の分離方法。
【発明の名称】岩盤の損傷度診断方法
【発 明 者】瀬戸政宏
【特許 番号】2899699（11.3.19）
【概 要】(1)岩盤中において発生するアコースティック・エミッション（Acoustic Emission）について，低周波域フィルターを通過したリングダウンカウントレートAE（L）と，高周波域フィルターを通過したリングダウンカウントレートAE（H）を計測し，これらの数値から，式
【数１】
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によりAE特性パラメータFを算出し，このFの変化を連続的に追跡することを特徴とする，岩盤の損傷度診断方法。
【発明の名称】岩盤損傷度測定方法
【発 明 者】瀬戸政宏
【特許 番号】2899700（11.3.19）
【概 要】(1)岩盤からコアサンプルを採取し，一軸圧縮して発生するアコースティック・エミッション（Acoustic Emission）を計測し，次式に従って損傷パラメータχを求めることを特徴とする，岩盤損傷度の測定方法。
χ＝σAE×Sc/P2
ただし，Scは健全時の強度，σAEは計測時にAEの発生が急激に増加し始めるときの荷重，Pは計測時の最大荷重である。
(2)岩盤の弾性限界を検知する(1)記載の測定方法。
実用新案
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